發(fā)布時間:2024-04-02
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使用高光譜相機進行測量時,準確的光譜校準至關(guān)重要。光譜特征的位置需要盡可能精確。必須在光譜采樣中準確估計峰值的中心位置。然而,正如此處介紹的,即使相機之間的采樣相同,但設(shè)備之間采樣帶的位置可能不同。為了簡化設(shè)備之間的數(shù)據(jù)交換和模型的可轉(zhuǎn)移性,同一類型相機之間的統(tǒng)一光譜校準(即光譜帶的位置,以納米為單位)是最重要的指標。此功能是 Specim FX 相機的特色。
VNIR = 可見近紅外 (400 – 1000 nm)
AIE = 自動圖像增強
通常,每個以推掃方式工作的光譜相機都有不同的光譜校準。這是由于這些設(shè)備的組裝方式造成的。光譜儀將穿過入口狹縫的光分散到 2D 探測器上(參見下圖 1)。探測器有兩個軸:空間軸(水平)和光譜軸(垂直)。該二維矩陣將來自分光鏡的模擬信號數(shù)字化。
圖 1:以推掃式方式工作的高光譜相機原理示意圖。
光譜校準為每個檢測器行分配一個波長(以 nm 為單位)。兩行中心之間的光譜距離對應(yīng)于光譜采樣。當生產(chǎn)此類相機時,由于制造機械公差,分光鏡相對于探測器芯片位置的機械位置在設(shè)備之間有所不同。因此,同一類型的每臺相機具有不同的光譜校準。此外,感興趣的第一行的編號(如果使用 VNIR 攝譜儀,則該第一行對應(yīng)于約 400 nm)在設(shè)備之間可能具有不同的位置。我們在這里談?wù)摴庾V偏移,它是光譜校準的一個重要參數(shù)。
每臺 FX 相機均配有兩個光譜校準包:
– 一個包含相機特定的光譜校準
– 一個包含統(tǒng)一光譜校準(命名中帶有 FX)
這使用戶可以自由選擇使用哪個校準包。對于特定于相機的設(shè)備,每個設(shè)備都會有不同的校準,如上所述。然而,統(tǒng)一光譜校準包括運行Specim開發(fā)的AIE算法的相關(guān)參數(shù),校正例如Smile和Keystone失真,并統(tǒng)一光譜校準。這意味著一旦啟用 AIE,從所有 FX10、FX17 和 FX50 傳輸?shù)臄?shù)據(jù)將具有相同的光譜校準。對于 GX17,與 SpecimONE 一起使用時可以使用類似的功能。
圖 2 說明了這種統(tǒng)一校準的好處。 HgAr 光譜燈在 546.07 nm、750.39 nm 和 912.30 nm 處產(chǎn)生峰值。這些峰值是在啟用和不啟用統(tǒng)一光譜校準的情況下使用 100臺 FX10 在 FOV 中心測量的??磥恚ㄟ^統(tǒng)一光譜校準,可以在 546.24 nm(波段 114)、750.24 nm 和 751.61 nm 之間(波段 265 和 266)以及 911.92 nm(波段 382)的相同位置(即波段)精確測量峰值。 )。
如果沒有統(tǒng)一校準,峰值的中心位置會在相機的采樣精度范圍內(nèi)變化(對于沒有binning的 FX10,約為 1.34 nm),并且可能存在 +-1 波段的差異。請注意,此處考慮了校準的光譜偏移。
圖 2. 在啟用和未啟用統(tǒng)一光譜校準的情況下,由 100 個單獨的 FX10 設(shè)備測得的三個光譜峰值。
當比較使用不同相機獲取的數(shù)據(jù)時,這種統(tǒng)一的光譜校準是有很大幫助的。此外,由于設(shè)備之間的光譜特征相似,因此基于 FX 相機收集的數(shù)據(jù)的分類模型很容易轉(zhuǎn)移。它不僅在構(gòu)建 OEM 機器時具有成本效益,而且還通過減少 HSI 相機之間的歷史變異性來促進協(xié)作研究。這種可變性的減少增強了 FX 相機之間的可轉(zhuǎn)移性。
(來源:Specim高光譜成像)